El TSIM – Test System Intelligent Machine es una plataforma modular de final de línea para pruebas funcionales de dispositivos y componentes electrónicos.
Su interfaz estándar y el concepto Zero Force Quick ChangeOver permiten adaptar las configuraciones de prueba a medida que evolucionan los productos, las tecnologías y los requisitos de producción.
Desde pruebas a nivel de PCB y pruebas de dispositivos completos hasta interfaces de comunicación y validación de RF, TSIM combina instrumentación configurable y módulos intercambiables en una plataforma reutilizable. Para aplicaciones inalámbricas, la configuración TSIM Wireless RF Shielded integra una cámara anecoica para realizar pruebas funcionales de RF en productos con antenas integradas.
