Los Sistemas de Burn-in y Run-in son sistemas de prueba industriales diseñados para realizar pruebas de burn-in y run-in, es decir, envejecimiento acelerado o pruebas de estrés en equipos electrónicos. Su objetivo es garantizar que el período inicial crítico, caracterizado por una mayor tasa de fallos, ocurra dentro del proceso de producción, reduciendo así la probabilidad de fallos posteriores en el producto final.
En la prueba de burn-in, los dispositivos bajo prueba (DUTs) se colocan en una cámara climática o en módulos con control de temperatura, donde permanecen en funcionamiento durante un período determinado. Durante este tiempo, los sistemas de adquisición pueden realizar pruebas funcionales o descargar software para monitorear cualquier cambio en las características del producto.
En la prueba de run-in, los DUTs se colocan en un JIG, donde permanecen operativos bajo condiciones exigentes durante un período prolongado. Este proceso también busca identificar posibles variaciones en las características del producto.
Nuestros Sistemas de Burn-in y Run-in compactos son configurables y pueden albergar tantos DUTs como requiera el cliente. Con carga (semi)automática de DUTs, estos sistemas son adaptables tanto a configuraciones en línea como fuera de línea.
Los Sistemas de Burn-in y Run-in de Controlar cumplen con los exigentes estándares de la industria automotriz, lo que los hace también adecuados para otros sectores, como la electrónica de consumo e industrial. Además, ofrecen la posibilidad de personalización para diferentes tipos de productos, gracias a su diseño escalable y altamente modular.