OLS800-Tsi
Handler Off-Line Universal da Série OLS
Especificações técnicas
Aplicações típicas
ICT
Tamanho máximo de PCB
510 x 460 mm
Largura mínima de PCB
100 mm
Folga do lado superior do componente
100 mm
Folga do lado inferior do componente
50 mm
Força motriz (nominal)
Servomotor 10kN
Recomendado/Máx. pontos de teste
1440
Tempo de manuseamento (ciclo da máquina)
aprox. 5 min
Tempo de troca da fixture/acessório
< 3 min
Espaço para rack de instrumentação
20U
Tipo de interface
Pylon Blocks/ ODU
Controlo de máquina
Beckhoff
Comunicação da máquina
Comunicação por sockets
Energia elétrica
230V AC 50-60 Hz
Requisitos pneumáticos
6.5 bars
Dimensões
840 (C) x 970 (L) x 1850 (A) mm
Peso
450 kg
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Características gerais
Desenvolvido como uma solução económica e versátil, o Handler Off-line Universal OLS800-Tsi (da série OLS) adapta-se a qualquer aplicação de testes offline – ICT (In Circuit Test), ISP (Flashing) ou FCT (funcional). O design desta solução permite a troca rápida e ergonómica de fixtures, com um tempo de troca inferior a 3 minutos.
Configuração de produto
- Estrutura de alumínio de alta resistência com capacidade para forças +10KN
- TSi51 HD ou TSi52 – até 2560 PT @ 2.8N/PT + 1280 pinos de transferência de fixture superior/inferior @1.1N/PT
- TSi52 HD – até 5120 PT @ 1.5N/PT + 2560 pinos de transferência de fixture superior/inferior @1.1N/PT
- Tamanho máximo de PCB de 510×460 mm
- Movimento de compressão durante o teste controlado por servomotor
- Teste de estágio duplo
- Teste de altura programável do servomotor
- Codificação do fixture nas placas inferior e superior para validação produto-fixture
- 2 blocos modulares pylon blocks para integração de instrumentação adicional, como CAN, RF, pneumático ou outras necessidades específicas
- 12U posições rack usadas para integração de instrumentação Teradyne TSi52
- Drivers de comunicação de controlo de máquina para .NET, NI LabWindows CVI, LabVIEW ou qualquer outra plataforma de terceiros com sockets de comunicação TCP/IP
Aplicações
Programa completo Teradyne TSi MDA/ICT e digital/híbrido depurado na amostra fornecida, incluindo:
- Relatório de testabilidade (Cobertura de teste)
- Repetitibilidade (CGK) – Relatório de Capabilidade do Sistema de Medição
- Repetitibilidade (CPK) – Relatório da Capabilidade do Processo
Fixtures
- Fixture desenvolvida de acordo com a análise prévia por Elementos Finitos (FEA – Finite Element Analysis)
- Análise de impacto das sondas de teste para validação do fixture
- Transportadora para análise individual de placas filhas (despanelização)