El sistema TSIM – Test System Intelligent Machine fue desarrollado por Controlar para ejecutar diferentes niveles de pruebas funcionales en dispositivos y componentes electrónicos en el final de la línea de producción (EoL) para garantizar el funcionamiento correcto de los DUTs.

Esta solución está preparada para una producción dinámica y flexible, utilizando una interfaz estándar y un método rápido de ChangeOver. El cambio rápido de módulos es esencial para reducir los tiempos de operación y así mejorar el flujo y la disponibilidad de la máquina.

Adecuado para probar todas las tecnologías principales de sistemas electrónicos, el TSIM está preparado para el futuro y se adapta fácilmente a las necesidades del DUT al permitir una fácil actualización de funcionalidades.

Incluye capacidades de autodiagnóstico automático y de validación del sistema para garantizar la funcionalidad adecuada y la repetibilidad de la prueba. La asistencia remota también está disponible utilizando lentes de realidad aumentada o una tableta.

El TSIM utiliza una interfaz estándar que le permite ser utilizado en diferentes tipos de conceptos de prueba. Este dispositivo de prueba puede ser personalizado con diferentes módulos como:

• Al nivel del PCB: semiautomático y manual
• Al nivel del dispositivo completo: semiautomático y semiautomático con caja de protección RF e instrumentación
• Conexiones de bus: CAN, LIN, LVDS, BroadR-Reach, MOST150
• Multímetro, fuente de energía programable, generador y/o analizador de RF, etc.

El TSIM fue desarrollado para cumplir los altos estándares de la industria automotriz, lo cual las hace adecuadas para otras industrias, como la electrónica de consumo y electrónica industrial, con la posibilidad de ser personalizadas para diferentes tipos de produtos.