Los Sistemas de Burn-in y Run-in son sistemas de pruebas  de envejecimiento y de estrés prematuro y acelerado en equipos electrónicos, de forma que el periodo crítico inicial, con elevada tasa de averías, ocurra aún durante la producción y la probabilidad de avería posterior sea reducida.

En las pruebas de burn-in, los DUT son colocados en una cámara climática o en gavetas con temperatura controlada donde permanecen en funcionamiento por un periodo, durante el cual los sistemas de adquisiciones pueden realizar pruebas funcionales o realizar la descarga del software para verificar si hay alguna alteración en las características de los productos.

En las pruebas de run-in, los DUT son colocados en un JIG donde permanecen en funcionamiento y en condiciones exigentes durante un periodo prolongado, durante el cual son sujetos a pruebas de estrés para verificar si hay alguna alteración en las características de los productos.

Nuestros Sistemas de Burn y Run-in tienen una capacidad configurable de acuerdo con los requisitos del cliente, y pueden contener varios DUT por gaveta (dependiendo del tamaño del producto). Con un posicionamiento automático o semiautomático de los DUT, son también adaptables a configuraciones online y offline.

• Temperatura controlada por gaveta a través de blowers individuales
• Uso de equipo de prueba/medición – PPS, DMM, dispositivo CAN, etc.
• Disponible en diferentes versiones: Compacta, multi-DUTs, automática o semiautomática y con funcionalidad múltiple y combinada (run-in, burn-in, estación de descarga).

Los Sistemas de Burn-in y Run-in de Controlar cumplen los altos estándares de la industria automotriz, lo que las vuelve también adecuadas para otras industrias, como electrónica de consumo y electrónica industrial, con la posibilidad de ser personalizadas para diferentes tipos de productos (fácilmente escalables y altamente modulares).