El sistema TSIM – Test System Intelligent Machine (Wireless RF Shielded) fue desarrollado por Controlar para ejecutar diferentes niveles de pruebas funcionales en dispositivos y componentes electrónicos en el final de la línea de producción (EoL) para garantizar el funcionamiento correcto de los DUTs.

Esta solución está preparada para una producción dinámica y flexible, utilizando una interfaz estándar y un método rápido de ChangeOver. Un cambio rápido de módulos es esencial para reducir los tiempos de operación y así mejorar el flujo y disponibilidad de la máquina.

Adecuado para probar todas las principales tecnologías de sistemas electrónicos, el TSIM está preparado para el futuro y se adapta fácilmente a las necesidades del DUT al permitir una fácil actualización de funcionalidades.

Este sistema en particular ejecuta la prueba funcional de sistemas wireless (por ejemplo, IVS) y dispositivos de infotainment con antenas integradas, probados en entornos blindados/anecoicos.

Incluye capacidad de autodiagnóstico automático y de validación del sistema para garantizar el funcionamiento adecuado y la repetibilidad de la prueba. La asistencia remota también está disponible utilizando lentes de realidad aumentada o una tableta.

El TSIM utiliza una interfaz estándar que le permite ser utilizado en diferentes tipos de conceptos de prueba. Esta solución de prueba puede ser personalizada con diferentes módulos, como:

• Al nivel de PCB: semiautomático y manual
• Al nivel del dispositivo completo: semiautomático y semiautomático con caja de protección RF e instrumentación
• Conexiones en bus: CAN, LIN, LVDS, BroadR-Reach, MOST150
• Multímetro, fuente de energía programable, generador y/o analizador de RF, etc.

El TSIM fue desarrollado para cumplir los estándares de la industria automotriz, lo cual las hace adecuadas para otras industrias, como la electrónica de consumo y electrónica industrial, con la posibilidad de ser personalizadas para diferentes tipos de productos.